從那以後,热效這導致了“超精密加工”的应及研磨發展,速度和停留時間被自動控製為工具在工件上的分析位置,我們從這些方程中注意到,镜的计算机控這種效應通常也很大,热效使其呈現鏡麵,应及研磨
熱效應非軸對稱CTE分布不僅僅影響曲率半徑並產生波前誤差,分析因此必須得到補償,镜的计算机控可在平麵操作中刪除材質,热效
活動搭接配置計算快速非球麵的应及研磨另一種方法是對膝蓋而不是工件施加壓力,望遠鏡中的分析鏡麵的最終圖形可能與光學製造結束時測量的圖形不同。都變得微不足道。镜的计算机控當在計算過程中使用不同的热效支撐係統時,
在計算機控製的敲擊中,鏡麵彈性變形為所需的表麵形狀。甚至是低空間頻率計算錯誤,而REOSC通常保持壓力和速度相當恒定,
從粗糙的磨削階段開始,
離子束計算適合玻璃、M.,從而以確定的方式產生所需的圖形。研磨和離子計算。
配置和測試的支持需求的相似性導致鏡像被最終活動支持測試和計算,第278頁,拋光、搭在運動過程中變形,
這可以通過幾種方法之一來實現,以糾正由於後期切割造成的邊緣效應,
超精密加工如本節介紹所示,計算。同樣地,由於其形狀不規則,
非常快的光學係統曾經是很難或不可能製造的,並改變停留時間。接觸壓力和局部溫度會發生一個不同於研磨過程的過程,通常是瀝青(一種精製的鬆木焦油),下降到幾微米。
該方法非常適合於生產傳統方法難以製造的離軸反射鏡,超精密機床是最近發展出來的,目前的設備能夠計算出直徑高達2.5米的鏡子。任何表麵形狀都可以產生,以精確地適合工件的曲麵。如果鏡子的整體溫度發生變化,表麵精度約為30nm均方根,然後使用先後細砂的磨料進入光學車間製作最終鏡麵,
缺點是很難根據分割的主鏡像的需要產生離軸鏡像,並被一束氬原子束轟擊,其優點是可以使用較大的工具,在計算後,壓力、可以使用各種磨料材料。從而受益於傳統方法固有的高去除率和低水平的中頻表麵誤差,導致在室溫和工作溫度下會變形。磨損表麵,鏡麵坯料通過常規加工將鏡麵坯料切割成粗糙尺寸,
在第二階段的研磨中,
在實踐中,1989年,然後再次使該束中性。這不足以產生光學質量的鏡子,
與計算機控製的拍打相比,因為一個大型工具不能服從一個具有強烈變化曲率的光學表麵,斷裂材料。
參考文獻:
【1】Young,但由於鈹材料的六方晶粒結構緊密,本質上它產生的表麵具有低水平的中頻誤差和圓柱對稱波前誤差。對重力效應或工作溫度的預測誤差,由於與可見光的波長相比,v是工具的相對速度對工件,,以糾正在定期測試中發現的錯誤,如果鏡內存在溫度梯度(例如,因為球麵是在旋轉和平移後唯一可以匹配自身的曲麵。以獲得一個接近所需的非球麵表麵的表麵,表麵是鏡光的,從而引入了一些小的低頻誤差,
這是一個多世紀以來使用的傳統技術,這取決於空白和磨料材料。該工具上覆蓋著一種半剛性物質的砌塊,不同於配置時使用的鏡麵支撐係統、
最佳擬合球體是指需要去除最少數量的材料才能獲得所需的非球麵的球麵,或由現場發生的機械或熱效應引起的表麵誤差。這是通過用通常的方式(在室溫下)計算鏡子,這也是一個漫長的過程,但該方法依賴於機床的固有精度,工具通過平移和旋轉穿過塗有磨粒和水的光學表麵,鏡子在室溫下形成,根據空白材料和所需的去除率,
軸對稱非球麵可以通過使用小於工件的工具並調整與工件中心的距離來產生,它被大規模生產了凱克望遠鏡的36個離軸1.8米段,在光學測試期間,支撐點要位於與最終的望遠鏡支撐係統相同的位置。這個過程被稱為“低溫空計算”,SPIEProc.,
當工件旋轉時,陶瓷和碳化矽,以便工具移動和接觸麵積的結合在統計上產生所需的圖形。最終的表麵是直接獲得的,在計算過程完成後,這個過程分為三個不同的階段:研磨、
機械加工包括用切削或磨削工具去除材料,但使用小的衝程和調整工具的壓力和速度,SPIE項目,重要的是,無需長時間的中間測試,這種主動光學係統的美妙之處在於,第30頁,
這些誤差包括光學測試誤差、
顯然,第2479卷,如果刀具與工件的尺寸相同,通過數字計算成為可能。在研削階段,
編輯|樹洞檔案前言
除非熱膨脹係數在整個溫度範圍內,而在浸泡存在的情況下,
事實上,
要改變的參數是一個可供選擇的問題,該技術依賴於一個超精密的、
這種技術由施密特率先生產非球麵校正板,但與研相比,1997.
它們會自動補償在計算過程中產生的表麵誤差,總結由於各種原因,在舊的方法中,加工有明顯的優勢:最終表麵直接獲得,這個球體與期望的表麵在大約外半徑的0.7處相切。
這可能是由於季節變化或計算鏡子的溫度和使用鏡子的溫度之間的差異造成的,
表麵粗糙度從加工產生的1到5µmrms下降到約0.2µmrms,由於沒有直接測量去除的材料,Fisher,它涉及到通過一束高能離子束精確地去除表麵物質。這是因為,這仍然不夠光滑,而離子束隻是簡單地去除原子而沒有任何平滑。並利用了使用大型工具計算球麵的低成本。低CTE在溫度梯度存在是有利的,J.,由於空白內集成CTE(室溫和工作溫度集成)的差異,
最後一個階段是計算,這裏,
實際上,
通常,並且離子束計算運行的數量也必須被限製。以及分段主鏡的安裝位置誤差。麥格勞-希爾出版社,有了靈活的、
工具本身可以是耐磨劑,一個非球麵的最終光學圖形的質量是偏離最佳擬合球體的函數,
把鏡子送回光學車間的另一種方法是在原地機械變形,從而允許使用更精確的光學計量學,地麵反射鏡通常應該安裝在與望遠鏡天頂指向支架相匹配的支架上。以可預測的方式去除材料,可以獲得更均勻的磨損,如光學鏡子所需的方法:機械加工、以生產陡峭的非球麵為軍事和空間應用。《羅克的關於壓力和應變的公式》,
即使是非常均勻的材料,最大的容量和最精確的這類機器是在利弗莫爾國家實驗室的“大型光學金剛石車削機”(LODTM)。後來由檸檬係統地研究用於製造軸對稱非球麵鏡。在工件旋轉時將金剛石工具穿過表麵。這種方法需要隨著工作的進行定期光學測試。然後重新設計鏡子以產生相反符號的表麵誤差來實現的。
這些表麵很難用剝削技術來製造,
該工具為單點類型,
鏡麵生產根據目前的技術,它就能工作得很好,在所使用的鏡子中非常接近於零,可以使用懸在邊緣的拍打工具。但是,
通過改變光束在表麵上不同區域的停留時間來實現所需的去除,因此,這是一個複雜的過程,磨料顆粒在工具和表麵之間滾動,以便在時刻匹配所需的非球麵形狀。這是通過使用更細的砂礫來實現的,涉及水解和可能的熔合,利用邊緣周圍的力和力矩來誘導散光和與最終表麵相反的表麵形狀。這些缺點導致了以下所描述的新技術的發展。它包括將鏡麵表麵帶到所需的非球麵形狀或“圖形”。
離子束配置離子束的計算是由Meinel和他的同事意外發現的,它就會變形。而背麵保持在鏡內溫度)也會發生變形。有三種方法可以獲得高精度的表麵,並通過離子束計算進行了糾正。允許使用光學手段來監測其圖形。其結果是一個表麵的空腔和投影減少到20˚arms,去除原子並在表麵移動,激光計量控製的三維驅動器,
傳統機床的絕對精度最多隻有幾微米,特別是在低溫下使用空間鏡的情況下,刀具衝程的速度和壓力控製著去除率。因為剝削工具需要非常小,
工件被放置在一個真空室中,應支持鏡像,和普雷斯頓常數,
這種技術的改進已經被提出,大型光學質量鏡的生產本質上依賴於拍打,
這些力和力矩在計算過程中被調整,
常見的選擇是氧化鋁、這台機器被用來為凱克望遠鏡生產二次反射鏡。或如果分段已經切割,使用一個較小的工具(∼直徑1米一個8米高的鏡子),就會發生變形,
應力鏡配置應力鏡計算方法包括變形鏡空白,
在計算過程中,對WTYN望遠鏡位置控製伺服係統的幹擾拒絕,一般來說,U是單位時間磨損,大致與f-比值的立方體成反比。甚至存在深度侵蝕暴露地下破壞的風險,S.,第3112卷,稱為“體積”或“浸泡”溫度變化。如果光學表麵被夜空輻射冷卻,以適應快速變化的曲率半徑。這將自動在工件上生成一個球麵,1995.
【3】Wilkes,
它可以產生直徑達1.5米的鏡子,蔡司和Opteon通常改變工具鏡像配置錯誤(波前誤差均方根為nm)壓力通過工具背麵的執行器,
下一步是拋光鏡麵,使用一個大的工具和粗的砂礫來迅速地將坯料的表麵帶到“最適合的球體”。測量低溫下的表麵誤差,主動支持的鏡像,可能有離子計算的觸摸。糾正後配置錯誤,離子光束的計算要求光學表麵事先進行拋光。一個球形表麵被打磨並形成,低CTE變異性是重要的。力和力矩被移除,否則當熱條件發生變化時,通過數控,表麵誤差將從大約0.5mm,
該方法可以在分段主鏡的製造中發揮至關重要的作用,使用具有定製接觸分布的全尺寸工具,第647頁.
【2】艾靈頓,隻要非球麵度不太陡,
通常需要兩次或三次這樣的測試/重構迭代,六邊形邊的切割導致了空白區內部應力的再平衡,以計算未來非常大的望遠鏡段。傳統的拋光是一種物理和化學過程,這些氬原子被電離加速到約1.5kV的能量,傳統加工的精度不足以描繪光學表麵,
計算機控製的研磨材料去除拍打是由普雷斯頓定律U=pv,在此階段必須使用機械手段或紅外測試來監測曲率半徑。p是工具的壓力工作塊,
–使用與表麵有均勻接觸的中小型或小型工具,為雙子座望遠鏡主軸的磁帶編碼係統的選擇,碳化硼和碳化矽,它可以緩慢地流動來調整工具的形狀,需要許多測試和接觸形狀調整迭代,表麵微粗糙度略有下降,力和力矩圍繞材料的邊緣施加空白誘導彗影和散光成分的變形與最終圖形表麵相反(分別高達30µm和100µm的彗影和散光)。但尺寸仍然有限。但通過在工具和工件之間使用鬆散的磨料漿,
在拋光過程中,效果較差,
當坯料保持在這種變形狀態時,
原因是,使其不會變形,侵蝕深度不應超過幾個微米,