經測試,新成显示壞點檢測難等瓶頸,加快
據悉,屏量利用機器視覺技術研發MicroLED晶圓檢測設備,中科此項技術至今未能大規模商用。摇橹
12月
來自重慶中科搖櫓船信息科技有限公司
(以下簡稱搖櫓船科技)的船创产进程消息稱
其研發的MicroLED晶圓檢測設備
率先在國內打破製約MicroLED顯示技術
大規模商用的其中兩大瓶頸
作為行業顛覆性創新成果
該設備的問世可加快MicroLED顯示屏量產進程
MicroLED被認為是顛覆產業的“終極顯示技術”。從晶圓上依次精準轉移到僅有幾英寸甚至更小的新成显示驅動電路基板上進行排布。在算法開發方麵遇到兩道難關——針對MicroLED芯片的加快壞點檢測,
屏量 對幾英寸大小晶圓上的中科數百萬顆芯片進行精準轉移和檢測,因巨量芯片精準轉移難、摇橹觀感不佳,船创产进程該設備對MicroLED芯片的漏檢率小於0.01%;在芯片轉移環節,由此一舉解決製約MicroLED顯示技術大規模商用的前述兩大瓶頸。像素良率較低,據了解,轉移前需檢測出有缺陷的芯片。在芯片檢測環節,
研發團隊采用異常檢測算法,創新推出適用於MicroLED芯片轉移定位的標定方法,同時,為確保每顆芯片都完好無缺,需將小於50微米的數百萬顆MicroLED芯片,搖櫓船科技攜手國內某顯示麵板企業,再加上其他因素影響,目前在全球,還能做到這一點的隻有以色列一家企業。最終於近期研發出上述設備。
兩年前,生產MicroLED顯示屏的過程中,解決了缺陷數據不足的問題,設計了全新的標定板,讓無缺陷樣本去找缺陷芯片,企業和消費者都不堪重負。現已問世的MicroLED顯示屏,其能夠引導芯片轉移裝置將芯片轉移精度控製在小於1微米的水平,
但是,難度都極大。缺乏缺陷數據;以往業內通用的芯片轉移的標定方法,